AEHR TEST SYSTEMS DL-,01

Aehr Test Systems liefert weltweit Testsysteme zum Einbrennen und Testen von integrierten Logik-, Optik- und Speicherschaltungen. Das Unternehmen bietet Produkte wie die ABTS- und FOX-P-Familien von Test- und Burn-in-Systemen sowie den FOX WaferPak Aligner, den FOX-XP WaferPak Contactor, den FOX DiePak Carrier und den FOX DiePak Loader. Das ABTS-System wird für Produktions- und Qualifikationstests von gehäusten Bauteilen für Logikbausteine mit geringerem und höherem Stromverbrauch sowie für verschiedene gängige Arten von Speicherbausteinen eingesetzt. Bei den Systemen FOX-XP und FOX-NP handelt es sich um Waferkontakt- und singuläre Die/Modul-Test- und Burn-in-Systeme, die für Burn-in und Funktionstests komplexer Bauelemente wie Speicher, digitale Signalprozessoren, Mikroprozessoren, Mikrocontroller, Systems-on-a-Chip und integrierte optische Bauelemente verwendet werden. Das FOX-CP-System ist eine kompakte Single-Wafer-Test- und Zuverlässigkeitsüberprüfungslösung für Logik-, Speicher- und Photonikbauteile. Der WaferPak Contactor enthält eine einzigartige Full-Wafer-Probe-Karte, mit der Wafer bis zu 300 mm getestet werden können und die es IC-Herstellern ermöglicht, Tests und Burn-In von kompletten Wafern auf Aehr Test FOX-Systemen durchzuführen. Der DiePak Carrier ist ein wiederverwendbares, temporäres Gehäuse, mit dem IC-Hersteller Endtests und Burn-in von nackten Chips und Modulen durchführen können. Aehr Test Systems wurde 1977 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Fremont, Kalifornien.

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